Zoeken
Zoeken kan via de modus 'eenvoudig zoeken' (één veld) of uitgebreid via 'geavanceerd zoeken' (meerdere velden). Zo kan je bv. zoeken op een combinatie van een auteursnaam (auteur), een jaartal (jaar) en een documenttype.
Boekenmand
Nuttige resultaten kan je aanvinken en toevoegen aan een mandje. De inhoud hiervan kan je exporteren of afdrukken (naar bv. PDF).
RSS
Op de hoogte blijven van nieuw toegevoegde publicaties binnen uw interessegebied? Dit kan door een RSS-feed (?) te maken van jouw zoekopdracht.
[ meld een fout in dit record ] | mandje (0): toevoegen | toon |
![]() |
Sensitivity analysis Saltelli, A.; Chan, K.; Scott, E.M. (Ed.) (2000). Sensitivity analysis. Wiley Series in Probability and Statistics. Wiley & Sons: Chichester. ISBN 0-471-99892-3. xv, 475 pp.
Deel van: Wiley Series in Probability and Statistics. Wiley & Sons: Chichester. ISSN 1940-6517; e-ISSN 1940-6347, meer
|
Beschikbaar in | Auteurs |
Deze kopie is momenteel uitgeleend aan Vanlede, Joris [ 28/11/2016 ] Gelieve bij verandering van ontlener steeds de bibliotheek te contacteren. | |
Documenttype: Handboek -Handleiding |
Trefwoord |
|
Auteurs | Top | |
|
Abstract |
Offers an accessible introduction to sensitivity analysis Covers all the latest research Illustrates concepts with numerous examples, applications and case studies Includes contributions form the leading researchers active in developing strategies for sensitivity analysis The principles of sensitivity analysis area carefully described, and suitable methods for approaching many types of problems are given. The book introduces the modeller to the entire causal assessment chain, from data to predictions, whilst explaining the impact of source uncertainties and framing assumptions. A 'hitch-hiker's guide' is included to allow the more experienced reader to readily access specific applications. Modellers from a wide range of disciplines, including biostatistics, economics, environmental impact assessment, chemistry and engineering will benefit greatly form the numerous examples and applications. |
Top | Auteurs |