Zoeken
Zoeken kan via de modus 'eenvoudig zoeken' (één veld) of uitgebreid via 'geavanceerd zoeken' (meerdere velden). Zo kan je bv. zoeken op een combinatie van een auteursnaam (auteur), een jaartal (jaar) en een documenttype.
Boekenmand
Nuttige resultaten kan je aanvinken en toevoegen aan een mandje. De inhoud hiervan kan je exporteren of afdrukken (naar bv. PDF).
RSS
Op de hoogte blijven van nieuw toegevoegde publicaties binnen uw interessegebied? Dit kan door een RSS-feed (?) te maken van jouw zoekopdracht.
nieuwe zoekopdracht
Hf and Lu isotopic reference values for the zircon standard 91500 by MC-ICP-MS
In: Chemical Geology. Elsevier: New York; London; Amsterdam. ISSN 0009-2541; e-ISSN 1872-6836
|  |
| Author keywords |
Hf isotopes; Zircon; MC-ICP-MS; Zircon standard 91500; Lu isotopes |
| Auteurs | | Top |
- Goolaerts, A.
- Mattielli, N.
- de Jong, J.
|
|
|
| Abstract |
The Hf and Lu isotopic ratios of the zircon standard 91500 have been redefined by multiple collector inductively coupled plasma mass spectrometry (MC-ICP-MS). The chemical protocol consists of a high-pressure and high-temperature acid dissolution of zircon followed by optimized two-step ion-exchange chromatography with an overall recovery better than 94%. Instrumental calibration involved an extensive characterization of standard solutions for Hf [JMC-475 250 ppb: 176Hf/177Hf=0.282161±16 (2 S.D.)] and Lu [JMC standard 50 ppb: 175Lu/176Lu=37.72±2 (2 S.D.)]. A total of 59 Hf isotopic measurements on the zircon standard 91500, including four independent dissolutions and purifications, were carried out on two Nu Plasma MC-ICP-MS instruments. The average 176Hf/177Hf is 0.282302±8 (2 S.D.) and the two MC-ICP-MS instruments give overlapping results within error. These high precision data [external error: 27 ppm (2 S.D.) for 59 measurements and 10 ppm for a single day; internal error: 10 ppm (2 S.D.)] are reproducible between duplicates and underscore the stability of the analytical protocol. The Lu isotopic composition of the zircon standard 91500 has also been redefined: 175Lu/176Lu=37.74±8 (2 S.D.). With the growing use of in situ measurement techniques using MC-ICP-MS technology, such precise reference values will be important for the calibration of laser ablation analyses in the future. |
IMIS is ontwikkeld en wordt gehost door het VLIZ.
